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测试光耦继电器好坏的方法

更新时间  2021-07-16 14:52:45深圳市克里雅半导体有限公司阅读
测试光耦继电器好坏的方法


为了判断光耦的好坏,可以在路上测量二极管和三极管的正负阻值。有三种更可靠的检测方法。

1、比较方法

将故障光耦取出,用万用表测量内部二极管和三极管的正负阻值,并与光耦好的对应引脚的测量值进行比较.如果阻值相差很大,会损坏光耦。

2、数字万用表的检测方法

以EL817光耦检测为例,说明了数字通配符检测的方法。检查时,将光耦二极管的+端子{1}引脚和-端子{2}引脚分别插入数字万用表的hfec和e插孔。数字万用表应放在NPN挡板上。将光电耦合晶体管C端的{5}针连接到指针式万用表的黑笔上,将e端的{4}针连接到红笔上,将指针式万用表拨到rx1k挡板上。这样,光耦合的状态就可以通过指针的偏转角度来判断,实际上就是光电流的变化。指针的右偏转角越大,光耦的光电转换效率越高,即传输比越高。相反,指针越低,光耦就会损坏。

3、光电效应判断方法

以检测EL817光耦为例,检测电路如图2所示。将万用表置于rx1k电阻上,将两个表笔分别接在引脚{4}和{5}上光耦输出,再接1.5V电池接50~100ω电阻,观察接EL817脚{1}正极,负极接EL817脚{2},正极连接到引脚{1},观察万用表端子}和负极端子。如果指针移动,光耦合好,指针不摆动,光耦合差。万用表指针摆动角度越大,光电转换灵敏度越高。

光耦合器通过光传输电信号。它可以很好地隔离输入和输出电信号,因此被广泛应用于各种电路中。目前已成为应用最广泛的光电器件之一。光耦合器一般由三部分组成:光发射、光接收和信号放大。输入的电信号驱动LED(发光二极管)发出一定波长的光,被光电探测器接收后产生光电流,进一步扩大输出。这样就完成了电光转换,起到输入、输出、隔离的作用。由于光耦合器的输入输出隔离,电信号的单向传输,使光耦合器具有良好的电绝缘性和抗干扰能力。因此,在信息的长期传输中,作为终端隔离元件,可以大大提高信噪比。作为计算机数字通信和实时控制中信号隔离的接口元件,可以大大提高计算机的可靠性。另外,光耦的输入端为低阻元件,工作在电流模式,共模抑制能力强。

1、高共模控制比。

在光耦合器中,由于LED与光接收器之间的耦合电容很小(在2pF以内),因此共模输入电压对通过极间耦合电容的输出电流的影响很小,因此模式控制率非常高。.

2、光耦输出特性

光耦合器的输出特性是指在一定的发光电流if下,光敏三极管中的偏置电压VCE与输出电流IC之间的关系。当if=0时,LED不发光,光电三极管集电极的输出电流称为暗电流,一般较小。如果为0,则对应的IC在某个If下基本独立于VCE。用半导体晶体管的特性曲线测得的光耦合器的输出特性与普通晶体管相似。

三个光耦合器可用作线性耦合器。

在发光二极管上提供偏置电流,信号电压通过电阻连接到发光二极管。光信号随着光电流的输入或输出而线性增加或减少。光耦也可以在通断状态下传输脉冲信号。传输脉冲信号时,输入信号与输出信号之间存在一定的延迟时间,不同结构的光耦的输入与输出之间的延迟时间差异很大。

(1)在逻辑电路中的应用。

光耦可以组成多种逻辑电路。由于光耦合器的抗干扰性能和隔离性能优于晶体管,因此光耦合器组成的逻辑电路更加可靠。

(2)用作固态开关。

在开关电路中,控制电路和开关需要良好的电气隔离,这对于一般的电子开关来说是很困难的,但是通过光耦很容易实现。

(3)在触发电路中的应用。

通过在双稳态输出电路中使用光耦,可以将LED串联到双管发射极电路,有效解决输出和负载隔离问题。

(4)在脉冲放大电路中的应用。

光耦在数字电路中的应用可以放大脉冲信号。

(5)在线电路中的应用。

线性电路采用线性光耦,线性度高,电绝缘性能好。

(6)特殊场合的应用。

光耦合器还可用于高压控制、变压器、触点继电器和模数转换电路。


陈小姐:

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